Fotomultiplicador Broadcom AFBR-S4N33C013, Montaje superficial, Luz Visible, Fotomultiplicador, 420nm, CSP
- Código RS:
- 202-8730P
- Nº ref. fabric.:
- AFBR-S4N33C013
- Fabricante:
- Broadcom
- Código RS:
- 202-8730P
- Nº ref. fabric.:
- AFBR-S4N33C013
- Fabricante:
- Broadcom
Documentación Técnica
Legislación y Conformidad
Datos del Producto
El fotomultiplicador de silicio sencillo (SiPM) Broadcom® AFBR-S4N33C013 NUV-HD se utiliza en aplicaciones que detectan fuentes de luz pulsada de bajo nivel, como Cherenkov o luz de centelleo de materiales de centellador orgánicos e inorgánicos. El SiPM produce una medición de precisión ultrasensible de fotones simples y detecta longitudes de onda de luz de casi ultravioleta (UV) en el espectro de luz visible. El fotomultiplicador tiene una alta sensibilidad hacia la región de luz azul del espectro de luz.
El multiplicador de silicio simple utiliza tecnología de silicio pasante (TSV) y tiene un área activa de 3 x 3 mm2. La ampliación de varios IC AFBR-S4N33C013 puede producir un área más grande que le permite crear una matriz con poca pérdida de borde.
El SiPM Broadcom® NUV-HD incluye aplicaciones como recuento de fotón simple correlacionado con el tiempo, detección de rayos X y rayos gamma, espectroscopia de rayos gamma. El fotomultiplicador AFBR-S4N33C013 se puede implementar en áreas como ciencias de la vida, citometría de flujo, astrofísica, medicina nuclear, así como seguridad.
El multiplicador de silicio simple utiliza tecnología de silicio pasante (TSV) y tiene un área activa de 3 x 3 mm2. La ampliación de varios IC AFBR-S4N33C013 puede producir un área más grande que le permite crear una matriz con poca pérdida de borde.
El SiPM Broadcom® NUV-HD incluye aplicaciones como recuento de fotón simple correlacionado con el tiempo, detección de rayos X y rayos gamma, espectroscopia de rayos gamma. El fotomultiplicador AFBR-S4N33C013 se puede implementar en áreas como ciencias de la vida, citometría de flujo, astrofísica, medicina nuclear, así como seguridad.
Características:
Alta eficiencia de detección de fotones (PDE) superior al 54% a 420 nm
Resolución de tiempo de fotón único (SPTR) y resolución de tiempo de coincidencia (CRT)
Tecnología TSV (escalable en 4 lados), con altos factores de llenado
Tamaño: 3,14 x 3,14 mm2
Paso de celda (paso SPAD) 30 ´ 30 μm2
Una capa de protección de vidrio muy transparente
Rango de temperaturas de funcionamiento de -40 °C a +85 °C
Conformidad con RoHS y REACH
Sin plomo
Detección de luz de materiales de cincelador orgánicos (plástico) e inorgánicos, por ejemplo: LSO, LYSO, BGO, NaI, CsI, BaF, LaBr.
Alta eficiencia de detección de fotones (PDE) superior al 54% a 420 nm
Resolución de tiempo de fotón único (SPTR) y resolución de tiempo de coincidencia (CRT)
Tecnología TSV (escalable en 4 lados), con altos factores de llenado
Tamaño: 3,14 x 3,14 mm2
Paso de celda (paso SPAD) 30 ´ 30 μm2
Una capa de protección de vidrio muy transparente
Rango de temperaturas de funcionamiento de -40 °C a +85 °C
Conformidad con RoHS y REACH
Sin plomo
Detección de luz de materiales de cincelador orgánicos (plástico) e inorgánicos, por ejemplo: LSO, LYSO, BGO, NaI, CsI, BaF, LaBr.
Especificaciones
Atributo | Valor |
---|---|
Espectros Detectados | Luz Visible |
Longitud de Onda de la Sensibilidad de Pico | 420nm |
Tipo de Elemento | Fotomultiplicador |
Número de Pines | 9 |
Tipo de Montaje | Montaje superficial |
Dimensiones | 3.14 x 3.14mm |
Encapsulado | CSP |
Longitud | 3.1mm |
Máxima Longitud de Onda Detectada | 900nm |
Mínima Longitud de Onda Detectada | 300nm |
Anchura | 3.1mm |
Rango Espectral de Sensibilidad | 300 nm → 900 nm |
Serie | NUV-HD SiPM |