Placa de evaluación onsemi Evaluation Kit - STR-NCV8170-NCP170-EVK

El STR-NCV8170-NCP170-EVK proporciona un kit de evaluación para las series NCV8170 y NCP170 de LDO con encapsulado XDFN4 de corriente quiescente ultrabaja CMOS de 150 mA con un rango de tensión de salida fija de 1,2 V a 3,6 V. Con una corriente quiescente ultrabaja típica de 500 na, el NCV8170 y el NCP170 están optimizados para aplicaciones alimentadas por batería. El NCV8170 tiene un índice de protección para aplicaciones industriales y de automoción. Este kit de evaluación se puede utilizar junto con la interfaz gráfica de usuario del entorno Strata, que puede activar/desactivar el LDO, así como monitorizar otros dispositivos de telemetría en la plataforma, incluida la tensión de entrada/salida, la potencia disipada y la temperatura.

4 series LDO diferentes para elegir, cada una con una gama de opciones de tensión
Intervalo de VIN de 1,1 V a 5,5 V.
Rango de carga máx. De 150mA a 300mA
Rango de Vout de 0,6 V a 5,3 V
Opciones de automoción disponibles
Aplicaciones
Alimentación dc-dc
Dispositivos de alimentación por batería
Analógico y RF
Automoción