Medidor de fuente Keithley 2606B, 4 canales, 100 → 240 V ac, 100 nA → 3 A, 1 kΩ, 20,2 W

La unidad de fuente/medición (SMU) 2606B System SourceMeter ofrece cuatro canales SMU de 20 W en un chasis con un factor de forma de 1U de altura. La unidad 2606B se basa en la tecnología SMU de tercera generación de Keithley y ofrece capacidades combinadas de fuente de alimentación de precisión, fuente de corriente real, DMM de 6 dígitos, generador de forma de onda arbitraria y generador de impulsos, todo ello en un solo instrumento altamente integrado. El resultado es una solución potente que aumenta considerablemente la productividad en pruebas de producción y cualificación automatizadas y exigentes en dispositivos optoelectrónicos como VCSEL/diodos láser empleados en detección 3D, telecomunicaciones y LED empleados en productos de consumo y automóviles, así como dispositivos integrados tales como IC analógicos, ASIC y dispositivos de sistema en chip (SOC). Si se necesita un número elevado de canales SMU, es posible apilar varias unidades 2606B sin necesidad de dejar una separación entre ellas para reducir la temperatura. El software integrado basado en navegador web permite que la unidad 2606B pueda comunicarse con cualquier ordenador desde cualquier lugar del mundo. En aplicaciones de sistemas automatizados, la tecnología Test Script Processor (TSP®) de la unidad 2606B ejecuta programas de prueba completos desde el instrumento para ofrecer el mejor rendimiento del sector. En aplicaciones de varios canales de mayor envergadura, la tecnología TSP-Link® de Keithley se combina con la tecnología TSP para poder realizar pruebas simultáneas de SMU por contacto a alta velocidad. Las SMU 2606B usan un código compatible con los instrumentos SMU Keithley 2602B System SourceMeter líderes del sector para poder usar las gamas nuevas.

• SMU de cuatro canales en un chasis de rack completo de 1U
• Apilable; no es necesario dejar una separación de 1U entre unidades
• Los instrumentos de medición y fuente de tensión/corriente altamente integrados ofrecen un rendimiento inigualable con una resolución de 6 dígitos
• 20 V a 1 A y 6 V a 3 A, 20 W
• Precisión básica: 0,015 % V dc
• Hasta 28 bits de E/S digital de drenaje abierto
• Resultados correlacionados con la SMU 2602B System SourceMeter
• La tecnología TSP integra programas de prueba completos en el instrumento para ofrecer el mejor rendimiento del sistema dentro de su categoría
• Tecnología de expansión TSP-Link para prueba paralela multicanal sin unidad central
• LAN en panel frontal (LXI-C), USB 2.0 con protocolo TMC488 e interfaces de E/S digitales
• El software integrado basado en navegador web permite el control remoto con cualquier navegador en cualquier ordenador y desde cualquier lugar del mundo

Prueba funcional I-V y caracterización de una amplia variedad de dispositivos como:
• Dispositivos optoelectrónicos
- Láseres de emisión superficial con cavidad vertical (VCSEL), diodos láser (empleados en sistemas de detección 3D)
- Diodos foto emisores (LED) de alto nivel de brillo (HBLED)
- Pantallas
• Dispositivos integrados a escala pequeña (SSI) y a gran escala (LSI)
- IC analógicos
- Circuitos integrados de radiofrecuencia (RFIC)
- Circuitos integrados específicos de la aplicación (ASIC)
- Dispositivos de sistema en chip (SOC)
• Componentes pasivos y discretos
- Sensores de dos cables, cabezales de unidades de disco, varistores de óxido de metal (MOV), diodos, diodos Zener, sensores, condensadores, termistores
- Transistores de unión bipolar (BJT) de señal baja, transistores de efecto campo (FET), etc.
• Optoacopladores de IC sencillos, controladores, interruptores, sensores, convertidores, reguladores