Delkin Devices Unidad flash USB SLC, USB U40GTQHFL-XN000-D 1 Gb

No disponible actualmente
No sabemos si este producto volverá a estar disponible, ya que el fabricante lo está descatalogando.
Código RS:
763-233
Nº ref. fabric.:
U40GTQHFL-XN000-D
Fabricante:
Delkin Devices
Encuentra productos similares seleccionando uno o varios atributos.
Seleccionar todo

Marca

Delkin Devices

Tamaño de la memoria

1Gb

Tipo de producto

Unidad flash USB

Tipo de interfaz

USB

Tipo de montaje

Montaje enchufable

Tipo de célula

SLC

Tensión de alimentación mínima

5V

Tensión de alimentación máxima

5V

Temperatura de Funcionamiento Mínima

-40°C

Temperatura de funcionamiento máxima

85°C

Anchura

17mm

Longitud

67.7mm

Altura

8mm

Certificaciones y estándares

RoHS Compliant

Estándar de automoción

No

Serie

B300 Series

COO (País de Origen):
US
La unidad USB industrial de Delkin Devices está diseñada para la transferencia y el almacenamiento seguros de datos críticos en entornos exigentes. Con flash SLC NAND de grado industrial, el dispositivo garantiza fiabilidad y durabilidad en diversas aplicaciones. Cumple las especificaciones USB 3.1 al tiempo que mantiene la compatibilidad con USB 2.0 y 1.1. Esta unidad USB está diseñada para sobresalir en una amplia gama de condiciones de temperatura, lo que garantiza un rendimiento constante. Con características avanzadas como tecnología de protección de datos y mecanismos de integridad de datos mejorados, proporciona una solución óptima para usuarios industriales que requieren soluciones de almacenamiento fiables.

Las opciones de capacidad oscilan de 1 a 32 GB, adaptadas a diferentes necesidades de almacenamiento

Funciona a temperaturas extremas de -40 °C a +85 °C, adecuado para entornos hostiles

Admite un alto tiempo medio entre fallos (MTBF) de más de 2 millones de horas, lo que garantiza una fiabilidad duradera

Equipado con tecnología de corrección de errores (ECC) para la integridad de los datos durante los procesos de lectura

Incorpora algoritmos de nivelación de desgaste para maximizar la vida útil y el rendimiento del flash NAND

El sistema de gestión de bloques defectuosos avanzado detecta y gestiona bloques de memoria defectuosos de manera eficaz

Utiliza actualización de datos dinámica para una retención de datos prolongada durante el ciclo de vida de la unidad

La funcionalidad SMART permite que la unidad se supervise automáticamente e informe el estado de salud

La asignación basada en página mejora el rendimiento aleatorio y reduce la amplificación de escritura

Totalmente conforme a las normas RoHS y USB 3.1, lo que garantiza el cumplimiento de las normas ambientales y de rendimiento

Enlaces relacionados

Mantente al día de nuestras novedades y ofertas

Introduce tu dirección de correo

La información personal que nos proporciones al suscribirte se procesará de acuerdo con nuestra política de privacidad.