Delkin Devices Módulo Conductor NAND, SATA III MB5HFTVM5-80000-2 512 Gb

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Código RS:
763-242
Nº ref. fabric.:
MB5HFTVM5-80000-2
Fabricante:
Delkin Devices
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Marca

Delkin Devices

Tamaño de la memoria

512Gb

Tipo de producto

Módulo Conductor

Tipo de interfaz

SATA III

Tipo de montaje

Montaje superficial

Tipo de célula

NAND

Tensión de alimentación máxima

3.46V

Tensión de alimentación mínima

3.14V

Temperatura de Funcionamiento Mínima

-40°C

Temperatura de funcionamiento máxima

85°C

Anchura

22mm

Certificaciones y estándares

RoHS Compliant

Altura

3.8mm

Longitud

80mm

Serie

M.2 2280 SATA III Industrial SSD

Estándar de automoción

No

COO (País de Origen):
TW
La unidad SSD industrial SATA III M.2 2280 de Delkin Devices es una solución de almacenamiento de alto rendimiento adaptada a aplicaciones industriales. Fabricado con tecnología flash 3D TLC, admite la interfaz SATA III, lo que proporciona una gestión de datos eficiente y velocidades de lectura/escritura impresionantes. La unidad está diseñada para funcionar de manera fiable incluso en rangos de temperatura extremos de -40 °C a 85 °C, lo que garantiza la integridad de los datos y la longevidad en entornos exigentes. Con capacidades que van de 128 GB a 2 TB, satisface diversas necesidades de almacenamiento al tiempo que mantiene un perfil robusto y energéticamente eficiente adecuado para sistemas integrados.

Las opciones de capacidad van desde 128 GB hasta 2 TB, lo que satisface diversos requisitos de almacenamiento

Las impresionantes velocidades de lectura secuencial de hasta 550 MB/s garantizan un acceso rápido a los datos

Las velocidades de escritura alcanzan hasta 510 MB/s, lo que mejora la productividad y la eficiencia de la transferencia de datos

Diseñado para soportar temperaturas de –40 a 85 °C, adecuado para condiciones industriales extremas

El bajo consumo de potencia en modo activo mantiene los costes de energía bajos durante el funcionamiento

Las características avanzadas, como la gestión de bloques defectuosos y TRIM, mejoran la fiabilidad y el rendimiento

La tecnología LDPC ECC garantiza la integridad de los datos mediante la corrección de errores

La tecnología SMART proporciona supervisión para mejorar la gestión de la vida útil y alertas de fallo proactivas

Admite algoritmos de nivelación de desgaste robustos para prolongar la vida útil de la memoria flash NAND

La conformidad con RoHS y un alto MTBF de más de 3. 000. 000 de horas subrayan la fiabilidad de la unidad

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