AEC-Q100 EEPROM STMicroelectronics, 32 kB, 4K x, 8, Serie I2C, 450 ns, 8 pines SOIC

Subtotal (1 bobina de 2500 unidades)*

417,50 €

(exc. IVA)

505,00 €

(inc.IVA)

Add to Basket
Selecciona o escribe la cantidad
Disponible
  • Disponible(s) 5000 unidad(es) más para enviar a partir del 31 de diciembre de 2025
¿Necesitas comprar más? Introduce la nueva cantidad y clica en "Consultar fechas de entrega"
Unidad(es)
Por unidad
Por Bobina*
2500 +0,167 €417,50 €

*precio indicativo

Código RS:
190-6766
Nº ref. fabric.:
M24C32-FMN6TP
Fabricante:
STMicroelectronics
Encuentra productos similares seleccionando uno o varios atributos.
Seleccionar todo

Marca

STMicroelectronics

Tamaño de la memoria

32kB

Tipo de producto

EEPROM

Tipo de interfaz

Serie I2C

Encapsulado

SOIC

Tipo de montaje

Superficie

Número de pines

8

Organización

4k x 8 Bit

Frecuencia del reloj máxima

1MHz

Tensión de alimentación mínima

1.7V

Número de bits por palabra

8

Tensión de alimentación máxima

5.5V

Temperatura de Funcionamiento Mínima

-40°C

Temperatura de funcionamiento máxima

85°C

Anchura

150 mm

Serie

M24C32-F

Altura

1.75mm

Longitud

5mm

Certificaciones y estándares

RoHS 2011/65/EU

Corriente de suministro

2.5mA

Número de palabras

4K

Estándar de automoción

AEC-Q100

Almacenamiento de datos

200year

Tiempo de acceso aleatorio máximo

450ns

Compatible con todos los modos de bus I2C:

1 MHz

400 kHz

100 kHz

Matriz de memoria:

32 Kbit (4 Kbyte) de la memoria EEPROM

Tamaño de página: 32 bytes

Página adicional con bloqueo de escritura

Tensión de alimentación única:

1,7 V a 5,5 V por encima de –40 °C / +85 °C.

1,6 V a 5,5 V por encima de –20 °C / +85 °C.

Escribir:

Escritura de byte en 5 ms

Escritura de página en 5 ms

Modos de lectura aleatoria y secuencial

Protección contra escritura de toda la matriz de memoria

Protección mejorada contra ESD/Latch-Up

Más de 4 millones de ciclos de escritura

Más de 200 años de retención de datos

Paquetes

PDIP8

SO8

TSSOP8

UFDFPN8

WLCSP

UFDFPN5

Oblea Unsawn (cada dado se prueba)

Enlaces relacionados